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LABR3（Ce）閃爍檢測(cè)器是一種中等分辨率閃爍檢測(cè)器，具有1.5 x 1.5英寸。

Mirion Broad Energy Ge （BEGe） 探測(cè)器覆蓋了 3 keV 至 3 MeV 的能量范圍，與眾不同。

傳統(tǒng)的同軸鍺探測(cè)器通常被稱(chēng)為Pure Ge，HPGe，Intrinsic Ge或Hyperpure Ge。

鍺探測(cè)器是具有p-i-n結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體二極管，其中本征（i）區(qū)域?qū)﹄婋x輻射敏感，特別是X射線和伽馬射線。

混合K-Edge/XRF分析儀設(shè)計(jì)用于同時(shí)識(shí)別和定量均勻液體或固體樣品中的幾種重元素。

NAIS-2x2型閃爍檢測(cè)器是一款高效閃爍檢測(cè)器，具有2 x 2 in。

Mirion Ultra-LEGe探測(cè)器將Ge探測(cè)器的性能范圍擴(kuò)展到幾百電子伏特，提供曾經(jīng)被認(rèn)為半導(dǎo)體探測(cè)器無(wú)法實(shí)現(xiàn)的分辨率和峰背景比

TN-15高靈敏度熱中子探測(cè)器采用的硅光電傳感器（SiPM），并以緊湊的形式提供的規(guī)格。

7419屏蔽準(zhǔn)直器特征 所有態(tài)度 緊湊 - 旋轉(zhuǎn)支腿和折疊手柄 可拆卸準(zhǔn)直器 - 44 毫米（1.75 英寸） 可拆卸錫過(guò)濾器 - 1 毫米厚（0.040 英寸...

CEBRS-1.5x1.5 探測(cè)器適用于非空調(diào)房間以及現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用。

NAIS-3x5x16型閃爍檢測(cè)器是一款高效閃爍檢測(cè)器，具有3x5x16英寸。

NAIS-3x3型閃爍檢測(cè)器是一款高效閃爍檢測(cè)器，具有3 x 3 in。

802 型閃爍檢測(cè)器是一個(gè)密封組件，包括高分辨率 NaI（Tl） 晶體、光電倍增管、內(nèi)部磁/光屏蔽、鋁外殼和 14 針連接器。

Mirion XtRa裝置是一種同軸鍺探測(cè)器，在前表面上具有的薄窗口接觸，可將有用能量范圍擴(kuò)展到3 keV。

用于高純度鍺（HPGe）探測(cè)器的智能前置放大器（iPA）是一款低噪聲、高速電阻反饋前置放大器，設(shè)計(jì)用于高分辨率伽馬光譜和定時(shí)測(cè)量。

反向電極（REGe）探測(cè)器在幾何形狀上與其他同軸鍺探測(cè)器相似，但有一個(gè)重要區(qū)別。

低能鍺（LEGe）探測(cè)器在各個(gè)方面都針對(duì)低能量和中等能量的性能進(jìn)行了優(yōu)化，并且與傳統(tǒng)的平面或同軸探測(cè)器相比具有特定的優(yōu)勢(shì)。

高純度鍺 （HPGe） 孔檢測(cè)器為小樣品提供率，因?yàn)闃悠穾缀醣换钚詸z測(cè)器材料包圍。

SAGe 孔檢測(cè)器在低能量和高能量下具有出色的能量分辨率，對(duì)于小樣品具有率。

ACT-LC Ge探測(cè)器專(zhuān)為檢測(cè)內(nèi)部沉積的錒系元素而設(shè)計(jì)，特別是鈾、钚和镅。